လီသီယမ် ဘက်ထရီ လျှပ်ကူးပစ္စည်း တိုင်းတာရေး ကိရိယာ
-
Super X-Ray Areal Density Measurement Gauge
အပေါ်ယံမျက်နှာပြင်အကျယ် 1600 မီလီမီတာထက်ပို၍ တိုင်းတာနိုင်သည်။ အလွန်မြန်နှုန်းမြင့် စကင်န်ဖတ်ခြင်းကို ပံ့ပိုးပေးသည်။
ပါးလွှာသောနေရာများ၊ ခြစ်ရာများ၊ ကြွေအနားများကဲ့သို့သော သေးငယ်သောအင်္ဂါရပ်များကို ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်သည်။
-
CDM ပေါင်းစပ်အထူနှင့် ဧရိယာသိပ်သည်းဆ တိုင်းတာမှု
အပေါ်ယံပိုင်းလုပ်ငန်းစဉ်- လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ သေးငယ်သောအင်္ဂါရပ်များကို အွန်လိုင်းတွင် ရှာဖွေတွေ့ရှိခြင်း၊ လျှပ်ကူးပစ္စည်း၏ ဘုံသေးငယ်သောအင်္ဂါရပ်များ- အားလပ်ရက်ငတ်မွတ်ခေါင်းပါးခြင်း (လက်ရှိစုဆောင်းသူ၏ယိုစိမ့်မှုမရှိခြင်း၊ သာမာန်အပေါ်ယံပိုင်းဧရိယာနှင့် မီးခိုးရောင်အနည်းငယ်ကွာခြားမှု၊ CCD ခွဲခြားသတ်မှတ်ခြင်းမအောင်မြင်ခြင်း)၊ ခြစ်ရာ၊ ပါးလွှာသောဧရိယာအထူ၊ AT9 အထူသိရှိနိုင်မှု စသည်တို့။
-
လေဆာအထူတိုင်းကိရိယာ
လီသီယမ်ဘက်ထရီ၏အပေါ်ယံပိုင်း သို့မဟုတ် လှိမ့်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် အီလက်ထရိုအထူတိုင်းတာခြင်း။
-
X-/β-ray areaal density gauge
လီသီယမ်ဘက်ထရီလျှပ်ကူးပစ္စည်း၏အပေါ်ယံပိုင်းလုပ်ငန်းစဉ်နှင့် ကြွေထည်အလွှာပိုင်းခြားခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် တိုင်းတာထားသော အရာဝတ္ထု၏ မျက်နှာပြင်သိပ်သည်းဆအပေါ် အဖျက်မဟုတ်သော စမ်းသပ်စစ်ဆေးမှုကို လုပ်ဆောင်ပါ။
-
အော့ဖ်လိုင်းအထူနှင့် အတိုင်းအတာ တိုင်းတာမှု
ဤစက်ပစ္စည်းအား လီသီယမ်ဘက်ထရီ၏ အပေါ်ယံပိုင်း၊ လှိမ့်ခြင်း သို့မဟုတ် အခြားသော လုပ်ငန်းစဉ်များတွင် လျှပ်ကူးပစ္စည်းအထူနှင့် အတိုင်းအတာတိုင်းတာခြင်းအတွက် အသုံးပြုကြပြီး၊ အပေါ်ယံပိုင်းတိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် ပထမနှင့်နောက်ဆုံးဆောင်းပါးတိုင်းတာခြင်းအတွက် ထိရောက်မှုနှင့် လိုက်လျောညီထွေရှိမှုကို မြှင့်တင်ပေးကာ လျှပ်ကူးပစ္စည်းအရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုအတွက် ယုံကြည်စိတ်ချရပြီး အဆင်ပြေသောနည်းလမ်းကို ပေးဆောင်ပါသည်။
-
3D ပရိုမိုမီတာ
ဤစက်ပစ္စည်းကို လစ်သီယမ်ဘက်ထရီတက်ဘ်ဂဟေဆော်ခြင်း၊ အော်တိုအစိတ်အပိုင်းများ၊ 3C အီလက်ထရွန်နစ်အစိတ်အပိုင်းများနှင့် 3C အလုံးစုံစမ်းသပ်ခြင်း စသည်တို့အတွက် အဓိကအားဖြင့် အသုံးပြုကြပြီး တိကျမှုမြင့်မားသော တိုင်းတာရေးကိရိယာတစ်မျိုးဖြစ်ပြီး တိုင်းတာမှုကို လွယ်ကူချောမွေ့စေပါသည်။
-
ဖလင်ပြား တိုင်းတာမှု
သတ္တုပြားနှင့် ပိုင်းခြားသည့် ပစ္စည်းများအတွက် တင်းမာမှုကို စမ်းသပ်ပြီး အမျိုးမျိုးသော ဖလင်ပစ္စည်းများ၏ တင်းအားသည် လှိုင်းအစွန်းနှင့် ဖလင်ပစ္စည်းများ၏ ရုန်းထွက်မှုဒီဂရီကို တိုင်းတာခြင်းဖြင့် သုံးစွဲသူများ နားလည်စေရန် ကူညီပေးသည်။
-
Optical interference thickness gauge
အလင်းဖလင်အပေါ်ယံပိုင်း၊ နေရောင်ခြည်စွမ်းအင်သုံး wafer၊ အလွန်ပါးလွှာသော မှန်၊ ကော်တိပ်၊ Mylar ဖလင်၊ OCA optical adhesive နှင့် photoresist စသည်တို့ကို တိုင်းတာပါ။
-
အနီအောက်ရောင်ခြည်အထူတိုင်းကိရိယာ
အစိုဓာတ်ပါဝင်မှု၊ အပေါ်ယံပိုင်းပမာဏ၊ ဖလင်နှင့် ပူပြင်းသောအရည်ပျော်သည့် ကော်ထူကို တိုင်းတာပါ။
gluing လုပ်ငန်းစဉ်တွင်အသုံးပြုသောအခါ၊ ဤကိရိယာကို gluing tank ၏နောက်ဘက်နှင့်မီးဖိုရှေ့တွင်၊ gluing thickness ကိုအွန်လိုင်းတိုင်းတာမှုပြုလုပ်နိုင်သည်။ စက္ကူထုတ်လုပ်ရေး လုပ်ငန်းစဉ်တွင် အသုံးပြုသောအခါ၊ ဤကိရိယာကို စက္ကူခြောက်၏ အစိုဓာတ်ပါဝင်မှုကို အွန်လိုင်းတွင် တိုင်းတာရန်အတွက် ဤကိရိယာကို မီးဖိုနောက်တွင် ထားနိုင်သည်။
-
X-ray အွန်လိုင်းအထူ (ဂရမ်အလေးချိန်) တိုင်းထွာ
ဖလင်၊ စာရွက်၊ သားရေတု၊ ရော်ဘာစာရွက်၊ အလူမီနီယမ်နှင့် ကြေးနီဖောင်များ၊ သံတိပ်၊ ယက်မဟုတ်သော အထည်များ၊ နှပ်ထားသော နှင့် ထိုကဲ့သို့သော ထုတ်ကုန်များ၏ အထူ သို့မဟုတ် ဂရမ်အလေးချိန်ကို ထောက်လှမ်းရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။
-
ဆဲလ်တံဆိပ် အစွန်းအထူ တိုင်းကိရိယာ
ဆဲလ်တံဆိပ်အစွန်းအတွက် အထူတိုင်းကိရိယာ
၎င်းကို အိတ်ဆောင်ဆဲလ်အတွက် ထိပ်ဘက်တံဆိပ်ခတ်ခြင်းအလုပ်ရုံအတွင်းတွင် ထားရှိထားပြီး တံဆိပ်ခတ်အစွန်းအထူကို စစ်ဆေးခြင်းနှင့် တံဆိပ်ခတ်ခြင်းအရည်အသွေးကို သွယ်ဝိုက်သောနည်းဖြင့် ဆုံးဖြတ်ခြင်းအတွက် အော့ဖ်လိုင်းနမူနာစစ်ဆေးခြင်းအတွက် အသုံးပြုပါသည်။
-
Multi-frame တစ်ပြိုင်တည်းခြေရာခံခြင်းနှင့်တိုင်းတာခြင်းစနစ်
လီသီယမ်ဘက်ထရီ၏ cathode & anode coating အတွက် အသုံးပြုသည်။ တစ်ပြိုင်တည်း ခြေရာခံခြင်းနှင့် လျှပ်ကူးပစ္စည်း တိုင်းတာခြင်းအတွက် စကင်ဖတ်ခြင်းဘောင်များစွာကို အသုံးပြုပါ။
Multi-frame တိုင်းတာခြင်းစနစ်သည် တူညီသော သို့မဟုတ် ကွဲပြားသောလုပ်ဆောင်ချက်များဖြင့် တစ်ခုတည်းသောစကင်ဖတ်ခြင်းဘောင်များကို ထူးခြားသောခြေရာခံခြင်းနည်းပညာကိုပြုလုပ်ခြင်းဖြင့် တိုင်းတာသည့်စနစ်တစ်ခုအဖြစ် ဖွဲ့စည်းထားကာ၊ တစ်ခုတည်းသောစကင်ဖတ်ခြင်းဘောင်များ၏ လုပ်ဆောင်ချက်များအားလုံးကို သိရှိနိုင်စေရန်နှင့် တစ်ပြိုင်တည်းစကင်န်ဖတ်ခြင်းဘောင်တစ်ခုတည်းဖြင့် မအောင်မြင်နိုင်သော တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်များကို သိရှိနိုင်စေရန်ဖြစ်သည်။ အပေါ်ယံပိုင်းအတွက် နည်းပညာလိုအပ်ချက်များအရ စကင်ဖတ်ခြင်းဘောင်များကို ရွေးချယ်နိုင်ပြီး စကင်ဖတ်ခြင်းဘောင် 5 ခုကို အများဆုံး ပံ့ပိုးပေးထားသည်။
အသုံးများသော မော်ဒယ်များ- နှစ်ဘောင်၊ သုံးဘောင် နှင့် ငါးဘောင် β-/X-ray ထပ်တူကျသည့် မျက်နှာပြင်သိပ်သည်းဆ တိုင်းတာခြင်း တူရိယာများ- X-/β-ray နှစ်ချက်ဘောင်၊ သုံးဘောင်နှင့် ဘောင်ငါးခု ထပ်တူပြုထားသည့် CDM ပေါင်းစပ်ထားသော အထူနှင့် မျက်နှာပြင်သိပ်သည်းဆ တိုင်းတာသည့် ကိရိယာ။
